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堀场 HORIBA

XploRA ONE™显微拉曼系统

作为一款高灵敏度的仪器，XploRA ONETM不仅能提供光谱测试，而且可以将检测后的最终结果直接呈现给您，其独特的设计使得拉曼分析变得很简单。 XploRA ONETM 的应用领域非常广泛，既可用于化学、生物、药物、材料等领域的快速检测，也可用于质量控制，例如DLC膜质量控制、石墨烯的层数测量等，并提供行业需求的特殊软件。
HORIBA Duetta荧光及吸收光谱仪

一种更佳的光谱仪理念 · 同步吸收- 荧光光谱仪 · UV-Vis-NIR 荧光检测波长范围250 nm-1100 nm · 一秒内获取三维荧光全谱 · 超高荧光灵敏度，水拉曼RMS 6000:1 · 自动校准主次内滤效应 · 独有的A-TEEM TM 指纹荧光技术，高保真识别分子指纹 · CCD 检测器实现毫秒内完成整个荧光光谱采集
HORIBA XploRA PLUS超快速拉曼成像光谱仪

XploRA plus 基于简单易用的设计理念和用户的操作习惯，集成了多种智能化功能，是一款具有显微共焦功能的高性能、精巧型拉曼光谱仪。最新的XploRA PLUS XS型号，提供1600谱线/秒的最快采集速度；成像速度大于1ms/像元；
GD-Profiler 2™ 射频辉光放电光谱仪

GD-Profiler 2™提供了快速、同时分析所有感兴趣的元素，包括氮、氧、氢和氯。是薄膜描述和工艺研究的理想工具。配有RF光源，可以在脉冲模式下检测易碎的样品，GD-Profiler 2™的应用范围从对腐蚀的研究到PVD涂层的工艺控制，在大学被广泛用于常规的金属和合金产品的研究。
HORIBA LA960激光粒度仪

业界最高端激光粒度仪产品，以精确可靠著称的HORIBA Partica LA-950V2已全新升级为LA-960。 HORIBA系列粒度仪以在亚微米范围内的超强测量能力而闻名，新型号除了保有这一优势还发展出全新的特性。 HORIBA依据多年经验，进一步完善数据运算方法，以不断满足用户对更高精度和更高分辨率的追求。
SZ-100V2纳米粒度仪

SZ-100V2 系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100V2的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。
MESA-50 X射线荧光分析仪

结合SDD检测器和HORIBA首创的DPP处理器，MESA-50将为您带来EDXRF的全新体验。MESA-50是HORIBA全新的生态采购支持仪器，不仅适合于欧洲的RoHS，ELV，也适用于其他地区的各种法规。
EMIA-20P 高频红外碳硫分析仪

最新的EMIA系列高频红外碳硫分析仪所具备的高准确度和高重现性完全满足钢铁、有色金属合金、矿物、电工材料、化学品等行业尖端技术研发及品质控制的分析要求,并且在检测精度、可靠性、易用性上更趋于完善。继承了EMIA-V2系列的高可靠性，提高了清扫性能及耐久性、易用性，以确保高效的测量。测量周期缩短有助于加快您的开发和制造速度。

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